半導(dǎo)體行業(yè)作為一個(gè)重要的產(chǎn)業(yè),一直是現(xiàn)代科技中不可或缺的一部分。它是電子設(shè)備的重要組成部分， 由純?cè)刂瞥?，通常是硅或鍺，或砷化鎵等化合物。在稱(chēng)為摻雜的過(guò)程中，少量雜質(zhì)被添加到這些純?cè)刂?，?dǎo)致材料的電導(dǎo)率發(fā)生巨大變化。半導(dǎo)體技術(shù)已經(jīng)是現(xiàn)代科技發(fā)展中不可或缺的一部分，被廣泛應(yīng)用于電子、通信、能源等領(lǐng)域，并且推動(dòng)了通信、計(jì)算、醫(yī)療保健、軍事系統(tǒng)、運(yùn)輸、清潔能源和無(wú)數(shù)其他應(yīng)用的進(jìn)步。
隨著市場(chǎng)的快速發(fā)展，在半導(dǎo)體行業(yè)中，對(duì)出產(chǎn)質(zhì)量的需求越來(lái)越嚴(yán)格，這就需要用到大量的自動(dòng)化制造加工設(shè)備，這些設(shè)備科技含量高，制造難度大，設(shè)備價(jià)值量高，進(jìn)而促進(jìn)了機(jī)器視覺(jué)技能的不斷發(fā)展壯大，機(jī)器視覺(jué)自身也跟著半導(dǎo)體、電子、主動(dòng)化、光學(xué)等技能快速發(fā)展而不斷發(fā)展和完善。樂(lè)視自動(dòng)化科技有限公司有著多年的機(jī)器視覺(jué)行業(yè)經(jīng)驗(yàn)，在機(jī)器視覺(jué)的應(yīng)用領(lǐng)域上有著不少成功的案例和解決方案。下面分享些半導(dǎo)體在機(jī)器視覺(jué)中的成像案例。
電容表面缺陷檢測(cè)
使用光源：LTS-RNMU75-BGR+FT5050-G
使用多色光不同角度照射，缺陷位置呈現(xiàn)出不同的顏色，對(duì)電容的表缺陷檢測(cè)比較有利，增加底部光源不同顏色突出產(chǎn)品輪廓。
晶圓表面的字符檢測(cè)
使用光源：LTS-3COX13752-W
晶圓表面比較光滑，平整的晶圓表面激光雕刻字符，使用垂直均勻光同軸光，使字符輪廓清晰，呈現(xiàn)出明顯的對(duì)比度。
晶圓弧邊倒角檢測(cè)
使用光源：LTS-2HSL10542-W
晶圓邊為圓弧倒角類(lèi)型，需要高精度測(cè)試其最高點(diǎn)與倒角的夾角，采用平行性強(qiáng)的平行集光源，配合高景深的雙側(cè)遠(yuǎn)心鏡，邊緣清晰。
芯片金線檢測(cè)
使用光源：LTS-3DM116-W
需要檢測(cè)芯片與金線連接是否有斷，金線為圓柱且不在同一高度，采用彩色相機(jī)配合非常均勻的圓頂光源拍攝，成像清晰對(duì)比度好。
CPU底座針腳異色
使用光源：LTS-DM154-W+LTS-COX38-CP-W
CPU底座針腳是圓弧狀，需要將針腳周?chē)惿珯z測(cè)清楚，不能有金屬反光，使用均勻光圓頂組合高精度同軸，呈現(xiàn)出針腳整體均勻，異色清晰明顯。
磁柱表面缺陷檢測(cè)
使用光源：LTS-COXL100-W
磁柱表面有凹坑、劃傷、蹦缺等缺陷，使用線陣相機(jī)，讓產(chǎn)品轉(zhuǎn)動(dòng)一周，配合同軸線光，能清晰的呈現(xiàn)劃傷，凹坑等缺陷，對(duì)比度明顯，輕微的缺陷都可以很清晰的對(duì)比度。
透明晶片輪廓檢測(cè)
使用光源：LTS-RN9070-W
透明晶片放在治具內(nèi)，需要檢測(cè)出晶片的尺寸，由于晶片透明，很難檢測(cè)出輪廓，使用環(huán)形光加偏振，使輪廓邊緣清晰，突顯出晶片的輪廓。
芯片定位檢測(cè)
使用光源：LTS-COX38-CP-W
芯片非常小，需要在6倍鏡頭下才能看到輕微的輪廓，在高倍鏡頭下普通同軸已經(jīng)滿足不了清晰度了，使用高精度同軸，使芯片輪廓清晰。
樂(lè)視科技一直伴隨著半導(dǎo)體行業(yè)成長(zhǎng)，長(zhǎng)期協(xié)助半導(dǎo)體科技公司解決視覺(jué)成像方案，為客戶(hù)提供整體機(jī)器視覺(jué)解決方案及服務(wù)，把機(jī)器視覺(jué)技術(shù)應(yīng)用到半導(dǎo)體行業(yè)的智能生產(chǎn)中，大大的提升效率與產(chǎn)品質(zhì)量。
