螺絲孔定位檢測(cè)
使用光源：LTS-RNH5060-W
使用60度環(huán)形光照射，可打亮背景及螺絲，同時(shí)螺絲與圓孔間隙灰度較低，使螺絲邊緣清晰，對(duì)比明顯。
扣子內(nèi)鐵環(huán)缺陷檢測(cè)
使用光源：LTS-COX60-W
需檢測(cè)特征為鐵環(huán)缺陷，使用同軸光源垂直照射產(chǎn)品，缺口處為黑，產(chǎn)品表面為白，缺陷對(duì)比明顯。
螺紋檢測(cè)
使用光源：LTS-2PFT7070-W
采用平行背光源，使邊緣更銳利，減少螺紋邊緣虛影，影響檢測(cè)精度的情況，對(duì)比效果非常好。
小磁芯件缺陷檢測(cè)
使用光源：LTS-COX40-W
需檢測(cè)鍍銀缺陷反光度高，使用同軸光源垂直打光，鍍銀缺陷相比背景灰度值較高，形成鮮明對(duì)比。
