實(shí)物圖字符面
實(shí)物圖花面
案例分析：
上圖為通貨硬幣，有兩面需要檢測(cè)，字符面以及花面，檢測(cè)內(nèi)容為表面鑄件崩缺、表面劃痕等缺陷。表面銀色光滑面，反光嚴(yán)重，字符面內(nèi)容稍微簡(jiǎn)易，花紋面表面復(fù)雜，對(duì)于高要求檢測(cè)光源選型難度高。
打光評(píng)估：
使用環(huán)形、條形等常規(guī)光源打光不理想，反光嚴(yán)重、對(duì)比度不夠高。綜合考慮使用同軸光源類型，同軸光能夠消除反光，且光路垂直，能提升表面凹凸對(duì)比。同時(shí)也考慮平行同軸光，平行同軸光比同軸光光路更加垂直。下面我們將對(duì)比分析同軸光源和平行同軸光源區(qū)別。
下圖為同軸光照射效果圖:表面整體均勻，字符、劃痕明顯。但是背景與特征對(duì)比度不夠高。
同軸光源
光源架構(gòu)圖
字符面效果圖
花面效果圖
下圖為平行同光源照射效果圖：表面整體均勻，字符、花面圖案、劃痕明顯，效果非常好。
同軸平行光源
光源架構(gòu)圖
字符面效果圖
花面效果圖
總結(jié)：
同軸光源類型都能夠消除反光、光路垂直，合適表面檢測(cè)應(yīng)用。平行同軸光平行性比同軸光源更好，對(duì)比度更加明顯。需要注意的是平行同軸光只合適表面平整光滑面檢測(cè)，而同軸光源雖然光路垂直性稍差，但更合適更多的場(chǎng)景應(yīng)用。
