光柵同軸線光源應(yīng)用案例
原理：
使用新型光學(xué)元件，配合同軸線光源可對光滑表面進(jìn)行凹凸檢測。光源上配有光柵元件，當(dāng)檢測到凹凸點(diǎn)時(shí)，條紋的成像就會發(fā)生變形，此變形的位置即為凹凸點(diǎn)的位置。
產(chǎn)品特點(diǎn)：
★透光性高, 均勻性好
★設(shè)計(jì)配合同軸線光
★特殊光學(xué)設(shè)計(jì)，成像效果良好
行業(yè)應(yīng)用：
★光滑表面凹凸、劃傷、黑點(diǎn)等缺陷檢測
應(yīng)用案例：
1.反光膜曲面、凹凸點(diǎn)檢測
樣品圖1
效果圖1
2.手機(jī)偏光膜曲面、凹凸點(diǎn)檢測
樣品圖2
效果圖2
說明：對于光滑表面的凹凸點(diǎn)，通過判斷條紋的彎曲很容易找出缺陷位置，放大缺陷。線陣檢測面積大，可根據(jù)樣品的大小選擇相對大的光源來滿足視野的，均勻性相對面陣更有優(yōu)勢。
3.偏光膜輕微劃傷等缺陷檢測
樣品圖3
效果圖3
說明：對于光滑表面的輕微劃傷點(diǎn)，常規(guī)的光源檢測很難看到缺陷，通過光柵同軸光源后，缺陷部分呈現(xiàn)出柵格雜亂，凸顯出缺陷，有利于機(jī)器視覺識別。
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